IMI Colloquium

Scanning non-linear optical probe microscopy utilizing tip-enhanced near field optics

開催期間

2016.6.8(水)
16:45 ~ 17:45

場所

九州大学 伊都キャンパス ウエスト1号館 4階 IMIオーディトリアム (W1-D-413)

講演者

橋詰 富博 (日立製作所研究開発グループ)

概要